Новости

В издательстве «ТЕХНОСФЕРА» вышла новая книга «Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии».

Дата публикации: 27/04/2009
Категория: Новости лазерных технологий
Версия для печати

В предлагаемой книге С.Д. Рида описываются рентгеноспектральный микроанализ (РСМА) и растровая электронная микроскопия (РЭМ) применительно к решению геологических задач.
В первой части монографии рассматриваются основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для РСМА и РЭМ.
Далее объясняются основные принципы формирования изображения в РЭМ (вторичные и обратно рассеянные электроны) с подробным объяснением методик получения их в цифровом виде.
Описаны принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС), а также сопутствующие явления, включая катодолюминесценцию (КЛ) и дифракцию обратно рассеянных электронов (ДОРЭ). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Также с примерами описано получение рентгеновских "карт", показывающих распределение элементов. В конце издания обсуждаются вопросы подготовки образцов.
Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также в качестве дополнительного материала для специалистов, использующих РСМА и РЭМ при решении геологических задач.
Переводное издание.- 2008 г. – 232 с., формат 70x100/16.
0 приобретении книги можно узнать по телефону: (495) 234-01-10, e-mail: sales@technosphera.ru

Источник: «ФОТОНИКА», 2009, №1, с.2-6, www.electronics.ru, www.technosphera.ru

Статьи по теме:

страницы: 1