Новости

Оптимальный профиль светорассеивающих микронеровностей можно определить тем же методом, который используется в расчетах элементов экрана зеркального фотоаппарата.

Дата публикации: 09/09/2009
Категория: Новости лазерных технологий
Версия для печати

Для усиления ультракоротких импульсов (УКИ) обычно используют кристалл Ti3+:Al2O3+ (сапфир, активированный титаном).
Для равномерного освещения торцевой поверхности кристалла излучением от лазера накачки пучок гомогенизируют.
Его пропускают через преломляющую среду или направляют на зеркало с распределенными на его поверхности светорассеивающими элементами определенной формы. Показано, что для расчета профиля светорассеивающих микронеровностей гомогенизатора для УКИ можно использовать тот же метод, что и для расчета профиля светорассеивающих микронеровностей матового фокусировочного экрана зеркального фотоаппарата.

Источник: «ФОТОНИКА», 2009, №2, с.24-28, www.electronics.ru

Статьи по теме:

страницы: 1